晶粒尺寸測(cè)定
晶粒尺寸測(cè)定：
納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以精確測(cè)定納米粒子的平均粒徑。
推薦：
DX-2700BH X射線衍射儀
DX-2800 高分辨X射線衍射儀
晶粒尺寸測(cè)定：
納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以精確測(cè)定納米粒子的平均粒徑。
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